Ammoonium paratungstate SEM mikrograaf on kujutis, mis on moodustatud skaneeriva elektronmikroskoobi (SEM) abil ammooniumparatungstate (APT) skaneerivast mikrostruktuurist. Ja vastavalt erinevatele n?udmistele v?imaldab SEM üksikasjalikult j?lgida suurendust v?i kitsast.

Skaneeriv elektronmikroskoop (SEM) on elektronmikroskoobi tüüp, mis toodab proovi pilte, skaneerides seda fokuseeritud elektronkiirega. Elektronid suhtlevad proovi aatomitega, andes erinevaid signaale, mis sisaldavad teavet proovi pinna topograafia ja koostise kohta. Elektronkiire skaneeritakse üldiselt rastri skaneerimismustriga ja valgustugevuse kombineerimiseks peegeldatud signaaliga kujutise saamiseks. SEM v?ib saavutada eraldusv?ime, mis on parem kui 1 nanomeeter. Proove v?ib t?heldada k?rgvaakumis, madala vaakumiga, m?rgades tingimustes (keskkonna SEM) ja mitmesugustes krüogeensetes v?i k?rgendatud temperatuurides.